1北京交通大學電子信息工程學院, 北京 100044
2 北京聯合大學信息學院，北京 100101
摘 要：邊界掃描技術是一種應用于數字集成電路器件的標準化可測試性設計方法，它提供了對電路板上元件的功能、互連及相互間影響進行測試的一種新方案，極大地方便了系統電路的瀏試。自從1990年2月JTAG與IEEE標準化委員會合作提出了 “標準測試訪問通道與邊界掃描結構”的IEEE1149. 1 -1990標準以后，邊界掃描技術得到了迅速發展和應用。JTAG指令處理器是邊界掃描電路的核心部件，在對TAP控制器的仿真驗證同時，討論JTAG相關指令與邊界掃描測試方式。
關鍵詞： JTAG技術 TAP控制器 Verilog HDL
作者簡介：
董 承：1989年出生，北京交通大學電信學院學生，主要研究方向是數字集成電路設計與驗證。
Dong Cheng was born in 1989, and now is a student in school of electronics and information engineer, Beijing Jiaotong University. Her research area is digital integrated circuit design and verification.
何朝軍：1984年出生，北京交通大學電信學院碩士研究生，主要研究方向是混合集成電路設計與驗證。
He Zhaojun was born in 1984, and now is a master in school of electronics and information engineer, Beijing Jiaotong University. Her research area is hybrid integrated circuit design and verification.
呂彩霞：1978年出生，北京聯合大學信息學院教師，研究方向是IC/SoC設計理論與技術，嵌入式理論與技術，生物醫學信息處理。
