先進測量系統能夠簡化閃變噪聲和隨機電報噪聲的測量與分析

新聞摘要：

·低系統噪聲使其可以精確測量半導體器件

·支持賽寶實驗室進行廣泛的器件與應用研究

 

2016 年 1 月 28 日，北京――是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，中國賽寶實驗室在其半導體器件（包括 MOSFET、HEMT 和 TFT等）可靠性研究中成功采用 Keysight EEsof EDA E4727A 先進低頻噪聲分析儀（A-LFNA）實施閃變噪聲（1/f 噪聲）和隨機電報噪聲（RTN）的測量與分析。

 

Keysight EDA E4727A是一款高性能的噪聲分析儀，可執行快速、精確和可重復的低頻噪聲（LFN）測量。它支持閃變噪聲和隨機電報噪聲的晶圓映射測量和數據分析，并提供可重復和可靠的測量結果，因此特別適合用于半導體材料和集成電路制程的開發、檢驗和監測。

 

賽寶實驗室又稱中國電子產品可靠性與環境試驗研究所，是中國首屈一指的、致力于電子產品質量和可靠性研究的科研機構。作為直接隸屬于中國工業和信息化部（MIIT）的機構，賽寶實驗室每年為工信部和地方政府的行業管理，以及上萬家電子信息企業提供技術支持和服務。

 

賽寶實驗室高級工程師劉遠博士表示：“我們經過細致的技術評估后才選擇了是德科技的 E4727A 解決方案。其卓越的性能確保了低系統噪聲下的精確測量，并且擁有業界最寬的頻率和偏壓測量范圍，支持我們各類器件與應用的研究。我們期待與是德科技在校準方法和標準化方面的進一步合作�！�

 

Keysight EEsof EDA 器件建模產品經理馬龍博士表示：“我們很高興賽寶實驗室成為我們低頻噪聲測量系統在全球的一個新的示范點。低頻噪聲是半導體材料和制程中一個非常敏感和重要的指標，在可靠性、新材料和新型器件的研究中廣泛使用。是德科技致力于通過增強與包括賽寶實驗室在內的全球頂尖研究機構以及高校的合作，為相關的研究工作提供大力支持�！�

 

有關 Keysight EDA A-LFNA 的更多信息，請訪問 www.keysight.com/find/eesof-a-lfna。